Блог

Jul 26, 2023

Глобальный вход

Современные автомобили оснащены множеством электронных систем, таких как усовершенствованные системы помощи водителю (A

Jul 25, 2023

RootWave запускается высоко

RootWave запускает высокочастотный истребитель сорняков для британских фермеров

Jul 24, 2023

8 лучших школ

Отправьтесь в путешествие, чтобы раскрыть секреты сияющей и омоложенной кожи с помощью высокочастотных аппаратов для ли

Jul 23, 2023

Компактный высокий

Scientific Reports, том 13, номер статьи: 14180 (2023) Цитировать эту статью 69 Доступы 1 Подробности об альтметрических

Jul 22, 2023

Топ-7 производителей JFET в мире

Переходный полевой транзистор (JFET) представляет собой трехконтактный полупроводниковый компонент, который в основном

Jul 21, 2023

Может ли Toshiba Triple

Когда дело доходит до управления питанием, на счету каждый ватт. Процесс рассмотрения того, где происходят потери мощн

Jul 20, 2023

Продукты для проверки целостности сигнала

Поскольку скорость передачи данных и плотность портов продолжают расти, разработчикам систем приходится выбирать между

Jul 19, 2023

На ISSCC IMEC раскрывает обвинение

Сегодня бельгийская научно-исследовательская организация IMEC представила детали новой конструкции ИС с фазовой автоподс

Jul 18, 2023

Broadcom будет поставлять компоненты Apple 5G в США

Одной из наиболее заметных тенденций компании в сфере аппаратного обеспечения за последние несколько лет стали масштабн

Jul 17, 2023

Термодатчик TMOS обеспечивает альтернативу PIR ...

По словам компании, датчик можно использовать для обнаружения присутствия человека и движения в системах безопасности,

Jul 16, 2023

VTT расширяет бизнес по производству кремниевых квантовых процессоров SemiQon

Это предприятие поддерживается местным фондом Vioma Ventures, который также поддержал пионера дисплеев Dispelix, Kuva Sp

Jul 15, 2023

Denso представляет свой первый инвертор с силовыми полупроводниками SiC...

Тест вождения, проведенный на BEV с инверторами SiC, показал ожидаемый на практике прирост эффективности: в ходе теста п